Omniprobe(オムニプローブ)/FIB Lift-Out TEM Grid

Omniprobe Lift-Out Grid

Omniprobe Lift-Out Grid
↑クリックすると図面が表示されます。

Omniprobe FIB Lift-Out TEM Grid

Cat No.ポスト数厚み材質枚数
LO14-C330umCu100
LO14-MMo25

Omniprobe Lift-Out Grid

Cat No.ポスト数厚み材質枚数
LO15330umCu100

Omniprobe Lift-Out Grid

Cat No.ポスト数厚み材質枚数
LO16-C430umCu100
LO16-MMo25

Omniprobe Lift-Out Grid

Cat No.ポスト数厚み材質枚数
LO17540umCu100

Omniprobe FIBグリッドボックス

Omniprobe FIBグリッドボックス

 Lift Out Grid用100枚収納ケース。
全体サイズ:55×51×10.7mm
穴サイズ:3.34×3.34×1.5mm(D)
LO19ASは帯電防止素材になります。

Cat No.数量
LO191
LO19-110
LO19AS1
LO19AS-110

FIB Lift-Out グリッドボックス

FIB Lift-Out グリッドボックス

 FIB Lift-Out グリッド4枚を収納できます。グリッドが収納穴の中で回転するのを防ぐため、穴の深さは1.7mmと浅くつくられています。

Cat No.収納数
LO201
LO20-110

FIB Lift-Out TEM Grid

FIB Lift-Out TEM Grid <Carbon>

 Carbon Gridの厚みは約70umです。ピュアカーボンでできており、EDS及び分光法のバックグラウンドが非常に低く、薄切片を取り付けるためのプラチナの結合が容易です。
グリッドサイズ 3mm、ポスト幅 (2Post)315×300μm(ノッチ)、(4Post)60×120μm, 120×190μm(ノッチ)

Cat No.ポスト数枚数
LO13-2210
LO13-44

FIB Lift-Out TEM Grid

FIB Lift-Out TEM Grid <Silicon>

 Silicon Gridの厚みは約100umです。無金属でデブリフリーなグリッドは、薄切片を取り付けるためのプラチナの結合が容易です。ボロンドープ、導電性シリコンは帯電を最小限に抑えます。ポストは幅80um、長さ190umです。

Cat No.ポスト数枚数
LO12-4410

プローブチップ


プローブチップ

AP200/100.7 Ni Shank/W Probe Tip

材質: ニッケルシャンク及びタングステンチップ
チップ半径: 0.5um(テーパー13°)

Cat No.入数
LO2110

プローブチップ

AP200/100.7 W Probe Tip

材質: タングステン
チップ半径: <0.5um(テーパー7°-10°)
シャンク径: 0.5mm
ニードル長さ: 34mm

Cat No.入数
LO2210

プローブチップ

AP200/100.7 Narrow W Probe Tip

材質: タングステン
チップ半径: <0.5um(テーパー6°-8°)
シャンク径: 0.5mm
ニードル長さ: 34mm

Cat No.入数
LO2310

プローブチップ

AP300/400 tips for in-situ tip change

材質: ステンレスシャンク及びタングステンチップ
チップ半径: 0.5um(テーパー6°)

Cat No.入数
LO2420

プローブチップ

OP300/400 Keyed probe tips

材質: ステンレスシャンク及びタングステンチップ
チップ半径: 0.5um(テーパー6°)
ニードル径: 0.25mm

Cat No.入数
LO2520

プローブチップ

OP300/400 Keyed Probe Tips for FEI SDB Front Port

材質: ステンレスシャンク及びタングステンチップ
チップ半径: 0.5um(テーパー6°)
ニードル径: 0.25mm

Cat No.入数
LO2620

プローブチップ

OP300/400 Probe Tips for FEI SDB Front Port

材質: ステンレスシャンク及びタングステンチップ
チップ半径: 0.5um(テーパー6°)
ニードル径: 0.25mm

Cat No.入数
LO2720

プローブチップ

Probe Tips for AP200/250 equipped w/ ShortCut

材質: タングステン
チップ半径: <0.5um(テーパー6°)
シャンク径: 0.5mm
ニードル長さ: 19.3mm

Cat No.入数
LO2810

FIB ピンタイプホルダー


FIB試料台

2 FIBグリッドホルダー
Cat No.仕様
GU315φ12.7 × 7.8mm
専用ドライバー付
GU315R交換用 真鍮ネジ 10ヶ

FIB試料台

Multiple FIBグリッドホルダー
Cat No.仕様
GU31622.5 × 29 × 13.5mm
φ3.2mm Pin

FIB試料台

2 FIBグリッド/サンプルホルダー

 2つのLift Out Gridsを保持及びφ12.7mmまでの試料をピンスタブにマウントできます。
ピン径:φ3.2mm。材質:アルミ

Cat No.仕様
GU31722.4×12.7×11.7mm
専用ドライバー付
GU315R交換用 真鍮ネジ 10ヶ

FIB試料台

2 FIBグリッド/2 サンプルホルダー

 2つのLift Out Gridsを保持及びφ12.7mmまでの2つの試料をピンスタブにマウントできます。
ピン径:φ3.2mm。材質:アルミ

Cat No.仕様
GU31836.5×12.7×11.6mm
専用ドライバー付
GU315R交換用 真鍮ネジ 10ヶ

FIB試料台

Multiple FIB グリッド/サンプルホルダー

 複数の同じ厚さのLift Out Gridsを保持及びφ25mmまでの試料をピンスタブにマウントできます。
ピン径:φ3.2mm。材質:アルミ

Cat No.仕様
GU31950×29×13.5mm

FIB試料台

LP 2グリッドホルダー

 2つのLift Out Gridsをバネ懸架式で簡単に保持できます。
ピンサイズ:φ3.2×4mm(h)。材質:アルミ

Cat No.材質
LP10アルミ

FIB試料台

LP 2グリッド/試料ホルダー

 FIB及びSEM/FIB (DualBeam/CrossBeam)用TEMグリッド/試料ホルダー。2つのLift Outグリッド及び2つの試料を保持できます。
ピンサイズ:φ3.2×8.1mm(h)。材質:アルミ

Cat No.材質
LP11アルミ

FIB試料台

LP 試料/グリッドホルダー

 FIB及びSEM/FIB用TEMグリッド/試料ホルダー。2つのLift Outグリッド及び1つの試料を保持できます。
ピンサイズ:φ3.2×8.1mm(h)。材質:アルミ

Cat No.材質
LP12アルミ

窒化シリコンメンブレン リフトアウトグリッド
Silicon Nitride Lift-Out TEM Windows

Silicon Nitride Lift-Out TEM Windows

窒化シリコンメンブレン リフトアウトグリッド <Silicon Nitride Lift-Out Grid>

● flip-stage SEM/FIBまたはTEM試料ホルダーに適合します。

● 窒化シリコンメンブレン リフトアウトグリッドは、100×500umのウィンドウに沿って大きい堅牢な窒化シリコン膜(厚さ400nm)が貼られており、試料調整のために簡単にアクセスできるエッヂを提供します。ストレスの少ないSiN膜は、FIBによって電子透過可能な厚さ(50nm厚以下)に加工ができます。

● 電気的・熱的分析のための厚さ200nmの金電極を備えたタイプが選択できます。



  • SN100-LFT

  • SN100-LFT-AU
Cat No.金電極フレーム厚メンブレン厚ウィンドウ
サイズ
枚数
SN100-LFTN/A100um400nm100×500um10
SN100-LFT-AU有り

SITE MENU

Copyright 2009 EM Japan Co.,LTD.