SEM用分解能測定試料

<カーボン上 金蒸着>



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分解能測定用


分解能測定用
Cat No.タイプ価格
S1685-150nm¥36,000
S168U5-150nm
(Unmounted)

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高分解能測定用

高分解能測定用
Cat No.タイプ価格
S19693-50nm¥45,000
S1969U3-50nm
(Unmounted)


超高分解能測定用

超高分解能測定用
Cat No.タイプ価格
S1987<1-30nm¥88,000
S1987U<1-30nm
Unmounted



低加速電圧観察用

低加速電圧観察用
Cat No.タイプ価格
S168ZLow Kv Au-C
<30-500nm
¥40,000
S168UZ<30-500nm
Unmounted



<カーボン上 錫球>


中分解能測定用

中分解能測定用
Cat No.タイプ価格
S1967Sn-C
<10-100nm
¥48,000


低加速電圧観察用

低加速電圧観察用
Cat No.タイプ価格
S1988Low Kv Sn-C
<20-400nm
¥52,000



分解能測定用 (Universal)


分解能測定用 (Universal)
Cat No.タイプ価格
S1937Universal Sn-C
<5nm-30μm
¥60,000
S1937TOn thin carbon disc(0.5mm)
S1937UUnmounted

商品イメージ:S1937 , S1937T




Pelco Gold
Pelco Gold


非点補正用

 1000mesh TEM Cu Gridに鋭角な金粒子が蒸着されており、クリアー・シャープ・ハイコントラスト像により容易に非点補正が可能です。
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Cat No.試料価格
S1968Prickly Pelco Gold¥32,000
S1968UUnmounted



中分解能/グレーレベル測定用

中分解能/グレーレベル測定用試料

 樹枝状構造から生じた様々な間隔によりギャップテストが可能です。また、樹枝状結晶の地理的配置はグレーレベルテストを可能にします。試料は非磁性、真空掃除、電子プローブへの副作用がなく、表面コーティングの必要がありません。プローブサイズ25~75nmでの研究に最も有用です。

Cat No.試料タイプ価格
S145Aluminium-Tungsten
Dendrites
unmounted
25-75nm¥62,000


  • 試料はφ12.5mmピンスタブにマウントされています。(Unmounted,S1937T,S145は除く)
    試料のコンタミネーションを避けるため、G3688 ピンスタブ用デシケーターでの保管をお薦め致します。
    Hitachi/JEOL用スタブ(φ10/φ12.5/φ15mm)をご希望の場合はご指定ください。




標準試料各種



The Chessy Specimen

SEM用Chessy試料

 Chessy試料は、SEMの標準試料として用いられるもので、20倍から50,000倍までの倍率で有効であり、像のゆがみの検定にも使えます。電子線によって金とシリコンの四角形が交互に刻まれた碁盤の目構造をしています。外枠は1辺が1mmで、更に1辺100umの四角形10個に分かれています。金の領域は更に10um角の四角形×10個と1um角の四角形×10個に分けられています。

Cat No.価格(¥)
S171280,000




G-1シリコンテスト試料

G-1シリコンテスト試料

 1umピッチグリッド付きG-1シリコンテスト試料は、100倍~10,000倍の範囲での倍率較正及び画像歪みチェックに非常に有用です。SEM、オージェ電子分光、二次イオン質量分析、集束ビーム、光学顕微鏡(反射光)に使用できます。試料は、直接G-1シリコンテスト試料に載せることができるので、画像の中で正確な内部較正が行えます。特に粉末を扱う時に適しています。試料はNISTスタンダードに対し個別に認定されています。
 証明書サンプル: ⇒S1934
 試料の保管については真空デシケーターをお薦め致します。試料をマウントする試料台はこちらよりお選びください。又、Unmountedタイプもございます。製品説明及び拡大図はこちらをクリックしてください。

[ Q & A ]  

Cat No.マウントタイプ価格(¥)
S1934試料のみ又は
マウントタイプ(A~Q)
をお選びください。
135,000







多元素標準試料/合金標準試料 <ユーザー選択>


 ユーザーの必要に応じて選択可能な多数の元素と化合物の一覧表はこちらをクリックしてください。φ32mm又はφ25mmの試料台に55種類までの標準試料を装着できます。試料は250nmのダイヤモンドによって磨き上げられ、カーボンコーティングされております。
 特定の組成(鉄、ステンレス、非鉄金属やガラス製など)の合金試料も多数ございます。これらは、ヨーロッパ、アメリカ、及びイギリスの標準に則っています。
価格/納期についてはお問い合わせください。
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  • 多元素標準試料
  • 多元素標準試料
  • 多元素標準試料
  • 多元素標準試料
  • 多元素標準試料
  • 多元素標準試料
  • 多元素標準試料
  • 多元素標準試料
  • 多元素標準試料
  • 多元素標準試料
  • 多元素標準試料
  • 多元素標準試料
  • 多元素標準試料

SEM用多目的標準試料


 SEMの品質管理試験(QCT)において、全てのニーズを満たす多様な仕様を備えた標準試料セットです。EDX較正用の標準試料(利用時指定可能、ファラデーカップ付)、倍率検査用シリコン標準試料(S1932)、カーボン膜に金を蒸着した解像度測定用標準試料(S168)BSE検出器使用時用真鍮製試料Duplex試料(S1953)等がホルダーにセットされています。性能保証書が付属されます。価格/納期はお問い合わせください。
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  • SEM用多目的標準試料
  • SEM用多目的標準試料
  • SEM用多目的標準試料
  • SEM用多目的標準試料

BSE標準試料

 BSE検出器が装備されている電子顕微鏡は、原子番号の違いによりコントラストの付いた画像を得ることが出来ます。この手法のための標準試料として4種類利用可能です。それぞれ、原子番号が1だけ違う2つの元素から構成されており、コントラストがある真鍮基板の上に並んでマウントされています。真鍮基板のサイズは直径5mm×高さ5mmになります。
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  • BSE標準試料
    S1950
  • BSE標準試料
    S1951
  • BSE標準試料
    S1952
  • BSE標準試料
    S1954
Cat No.品名価格
S1950BSE reference, copper/nickel Z=(29-28)¥128,000
S1951BSE reference, silver/palladium Z=(47-46)
S1952BSE reference, gold/platinum Z=(79-78)
S1954BSE reference, aluminium/silicon Z=(13-14)






BSE標準試料セット


BSE標準試料セット

 カーボン、Duplex試料、ファラデーカップ、上記4原子番号参照標準試料のセットです。φ30×5mm カーボンブロックにセットされています。

Cat No.価格(¥)
S1955P.O.A



Duplex試料


Duplex試料

 非常に感度の高い試料として、平均原子番号の違いが僅か0.1の銅と亜鉛の合金試料があります。画像の明るい領域は平均原子番号29.47であるのに対し、暗い領域の平均原子番号は29.37です。試料はφ5×5mmの真鍮チューブにマウントされています。

Cat No.価格(¥)
S1953P.O.A



粒子分析標準試料


粒子分析標準試料

 粒子分析標準試料は、グレーレベルを反射電子に設定することを可能にします。カーボン、コバルト、ロジウム、金がセットされた試料は、φ13mm アルミピンスタブにマウントされています。

Cat No.価格(¥)
S1956P.O.A





X-CHECKER

X-CHECKER

 モニターエネルギー分散型分光器/SEMシステム。X-CHECKERは、SEMにおけるEDSのX線システムの性能監視を補助する較正試料です。径1インチのアルミスタブ上に標準試料を包含しています。X-CHECKERにより、検出器の分解能及び較正の確認、検出器ウィンドウの汚染テスト、低い検出感度の監視、ご使用のEDSシステムの較正が可能です。
 S0850Aは、スィンウィンドウ及びウィンドウの無い検出器の低い性能を、より高感度で監視できるボロンナイトライドが追加されます。さらに、S0850Bはフッ素K-アルファピーク(低分解能計測の業界標準)での分解能テストのためにフッ素源がプラスされており、また、低い検出性能の最終テストのためのBe half Gridが追加されます。アルミスタブサイズ: φ25.4×10mm

Cat No.試料種類価格
S0850Mn, Cu, C, Ni¥150,000
S0850AMn, Cu, C, Ni, B¥176,000
S0850BMn, Cu, C, Ni, B, F, Be¥198,000






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