ホルダー付ピンスタブ

ピンタイプ試料台

溝付ピンスタブ

φ12.5 × 8mmアルミピンスタブで、試料を挟むための溝(幅4mm,深さ4mm)と2つのネジが付いています。

Cat No.
G301D

ピンタイプ試料台

溝付ピンスタブⅡ

φ12.7 × 8mm 試料ホルダー付アルミピンスタブ。溝は6.4mm幅まで開きます。

Cat No.
GUT301D

ピンタイプ試料台

溝付ピンスタブⅢ

φ15 × 9.5mm 薄い試料用ホルダー付アルミピンスタブ。2ヶ所の溝(1mm幅,深さ5mm)があり、ネジで固定できます。

Cat No.
GUT301J

ピンタイプ試料台

溝付ピンスタブⅣ

φ25 × 9.5mm 試料ホルダー付アルミピンスタブ。10mm幅,深さ5mmの溝があり、ネジで固定できます。

Cat No.
GUT301K

ピンタイプ試料台

溝付ピンスタブⅤ

φ25 × 9.5mm 薄い試料用ホルダー付アルミピンスタブ。2ヶ所の溝(2.5mm幅,深さ5mm)があり、ネジで固定できます。

Cat No.
GUT301L

ピンタイプ試料台

溝付ピンスタブⅥ

φ15 × 10(h) × 15mm(Pin長さ) ピンは中心より少し外れています。溝は6.4mm幅まで開きます。

Cat No.
GUT301M

ピンタイプ試料台

クリップ式ピンスタブ

簡単に試料を固定することができるクリップ付アルミピンスタブです。3つのクリップは取り外しが可能なため、必要に応じ数を減らすことできます。また、衛生的です。2mm厚まで挟むことがきます。
クリップの材質:ベリリウム/銅合金
真鍮ネジ:M2 × 3mm

Cat No.サイズ(mm)クリップ数
GUT399φ25 × 9.53
GUT400φ32 × 9.5
GUT-N交換用 真鍮ネジ 10ヶ入
GUT-C交換用 クリップ 1ヶ入

ピンタイプ試料台

クリップ式ピンスタブ(φ50)
Cat No.サイズ(mm)クリップ数
GUT500φ50 × 88

ピンタイプ試料台

クリップ式ピンスタブ(φ100)
Cat No.サイズ(mm)クリップ数
GUT100φ100 × 9.56

ピンタイプ試料台

クリップ式ピンスタブ(45°-90°)
Cat No.サイズ(mm)クリップ数
MUT5775φ25 × 9.5(Pin)2

ピンタイプ試料台

クリップ式ピンスタブ(90° × 2)
Cat No.サイズ(mm)クリップ数
MUT5776φ25 × 9.5(Pin)2

ピンタイプ試料台

クリップ式ピンスタブ(傾斜可変式)
Cat No.サイズ(mm)クリップ数
MUT600014 × 14.3 × 14.5
9.5(Pin)
1

ピンタイプ試料台

傾斜可変式ホルダー付ピン/M4試料台

33 × 20 × 17.2(h)mm(ピン及びネジを除く) φ18mmまでのピンスタブ(固定可)又は26×20mmまでの試料をマウントできます。0°-90°まで10°単位で調整可能、又0°/30°/45°/70°/90°にマークがあります。底面M4ネジ切タイプ又はPinタイプが選択できます。

Cat No.仕様
GUT6235φ3.2mm ピンタイプ
GT6235M4ネジ切タイプ

SEM用試料台

ミニバイス付ピン/M4スタブ

ホルダー幅25.4mm。11mm幅まで固定可能。底面M4ネジ切タイプ又はPinタイプが選択できます。

Cat No.仕様
GUT6705φ3.2×9.6mm(ピン長さ)
ピンタイプ
GT6705M4ネジ切タイプ

SEM用試料台

多目的ホルダー付ピン/M4スタブ

φ33×12.5mm。φ26.5mmまで固定可能。また、左右に設けられた溝により、楕円形や棒状の試料を固定することが可能です。底面M4ネジ切タイプ又はPinタイプが選択できます。

Cat No.仕様
GUT703φ3.2×9.6mm ピンタイプ
GT703M4ネジ切タイプ

SEM用試料台

シリンダーホルダー付ピン/M4スタブ

サイズ : φ39.5 × 12.7(h)mm。
φ19 ~ 33mmまでの試料又は試料台をHoldできます。底面M4ネジ切タイプ又はPinタイプが選択できます。

Cat No.仕様
G3590φ3.2mm ピンタイプ
G3590-1M4ネジ切タイプ

SEM用試料台

グリップ式試料台

試料を挟むことができ、試料の端まで観察可能なSEM用試料台です。標準的なピンタイプ試料台が収まる機種で利用可能です。

Cat No.
G3392

TEM用試料台

TEMグリッド用 SEM試料台

TEM用グリッドに載せられた粒状試料の観察用試料台。グリッドの下にあたるところに穴が開けてあり、不要な電子線を排除できます。試料台中央部のネジを外した後、上蓋を外しグリッドを載せ固定します。

Cat No.
G3662
G3662A (Cryo用)

FIB ピンタイプホルダー


FIB試料台

2 FIBグリッドホルダー
Cat No.仕様
GU315φ12.7 × 7.8mm
専用ドライバー付
GU315R交換用 真鍮ネジ 10ヶ

FIB試料台

Multiple FIBグリッドホルダー
Cat No.仕様
GU31622.5 × 29 × 13.5mm
φ3.2mm Pin

FIB試料台

2 FIBグリッド/サンプルホルダー

 2つのLift Out Gridsを保持及びφ12.7mmまでの試料をピンスタブにマウントできます。
ピン径:φ3.2mm。材質:アルミ

Cat No.仕様
GU31722.4×12.7×11.7mm
専用ドライバー付
GU315R交換用 真鍮ネジ 10ヶ

FIB試料台

2 FIBグリッド/2 サンプルホルダー

 2つのLift Out Gridsを保持及びφ12.7mmまでの2つの試料をピンスタブにマウントできます。
ピン径:φ3.2mm。材質:アルミ

Cat No.仕様
GU31836.5×12.7×11.6mm
専用ドライバー付
GU315R交換用 真鍮ネジ 10ヶ

FIB試料台

Multiple FIB グリッド/サンプルホルダー

 複数の同じ厚さのLift Out Gridsを保持及びφ25mmまでの試料をピンスタブにマウントできます。
ピン径:φ3.2mm。材質:アルミ

Cat No.仕様
GU31950×29×13.5mm

FIB試料台

LP 2グリッドホルダー

 2つのLift Out Gridsをバネ懸架式で簡単に保持できます。
ピンサイズ:φ3.2×4mm(h)。材質:アルミ

Cat No.材質
LP10アルミ

FIB試料台

LP 2グリッド/試料ホルダー

 FIB及びSEM/FIB (DualBeam/CrossBeam)用TEMグリッド/試料ホルダー。2つのLift Outグリッド及び2つの試料を保持できます。
ピンサイズ:φ3.2×8.1mm(h)。材質:アルミ

Cat No.材質
LP11アルミ

FIB試料台

LP 試料/グリッドホルダー

 FIB及びSEM/FIB用TEMグリッド/試料ホルダー。2つのLift Outグリッド及び1つの試料を保持できます。
ピンサイズ:φ3.2×8.1mm(h)。材質:アルミ

Cat No.材質
LP12アルミ

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