• FIB Lift Out TEM Grid, Omniprobe, FIBピンホルダー

Omniprobe(オムニプローブ)/FIB Lift-Out TEM Grid



Omniprobe Lift-Out Grid

Omniprobe Lift-Out Grid

Omniprobe FIB Lift-Out TEM Grid

Cat No.ポスト数厚み材質枚数価格(¥)
LO14-C330umCu10039,000
LO14-MMo2554,000

Omniprobe Lift-Out Grid

Cat No.ポスト数厚み材質枚数価格(¥)
LO15330umCu10027,000

Omniprobe Lift-Out Grid

Cat No.ポスト数厚み材質枚数価格(¥)
LO16-C430umCu10039,000
LO16-MMo2554,000

Omniprobe Lift-Out Grid

Cat No.ポスト数厚み材質枚数価格(¥)
LO17540umCu10042,000



Omniprobe FIBグリッドボックス

Omniprobe FIBグリッドボックス

 Lift Out Grid用100枚収納ケース。
全体サイズ:55×51×10.7mm
穴サイズ:3.34×3.34×1.5mm(D)

Cat No.数量価格(¥)
LO1913,000
LO19-11029,000




FIB Lift-Out グリッドボックス

FIB Lift-Out グリッドボックス

 FIB Lift-Out グリッド4枚を収納できます。グリッドが収納穴の中で回転するのを防ぐため、穴の深さは1.7mmと浅くつくられています。

Cat No.収納数価格(¥)
LO2013,200
LO20-11030,000



FIB Lift-Out TEM Grid

FIB Lift-Out TEM Grid <Silicon>

 Silicon Gridの厚みは100umです。無金属でデブリフリーなグリッドは、薄切片を取り付けるためのプラチナの結合が容易です。ボロンドープ、導電性シリコンは帯電を最小限に抑えます。ポストは幅80um、長さ190umです。

Cat No.ポスト数枚数価格(¥)
LO12-441054,000




プローブチップ


プローブチップ

AP200/100.7 Ni Shank/W Probe Tip

材質: ニッケルシャンク及びタングステンチップ
チップ半径: 0.5um(テーパー13°)

Cat No.入数価格(¥)
LO211064,000


プローブチップ

AP200/100.7 W Probe Tip

材質: タングステン
チップ半径: <0.5um(テーパー7°-10°)
シャンク径: 0.5mm
ニードル長さ: 34mm

Cat No.入数価格(¥)
LO221036,000


プローブチップ

AP200/100.7 Narrow W Probe Tip

材質: タングステン
チップ半径: <0.5um(テーパー6°-8°)
シャンク径: 0.5mm
ニードル長さ: 34mm

Cat No.入数価格(¥)
LO231048,000


プローブチップ

AP300/400 tips for in-situ tip change

材質: ステンレスシャンク及びタングステンチップ
チップ半径: 0.5um(テーパー6°)

Cat No.入数価格(¥)
LO2420110,000


プローブチップ

OP300/400 Keyed probe tips

材質: ステンレスシャンク及びタングステンチップ
チップ半径: 0.5um(テーパー6°)
ニードル径: 0.25mm

Cat No.入数価格(¥)
LO252092,000


プローブチップ

OP300/400 Keyed Probe Tips for FEI SDB Front Port

材質: ステンレスシャンク及びタングステンチップ
チップ半径: 0.5um(テーパー6°)
ニードル径: 0.25mm

Cat No.入数価格(¥)
LO262094,000


プローブチップ

OP300/400 Probe Tips for FEI SDB Front Port

材質: ステンレスシャンク及びタングステンチップ
チップ半径: 0.5um(テーパー6°)
ニードル径: 0.25mm

Cat No.入数価格(¥)
LO272093,000


プローブチップ

Probe Tips for AP200/250 equipped w/ ShortCut

材質: タングステン
チップ半径: <0.5um(テーパー6°)
シャンク径: 0.5mm
ニードル長さ: 19.3mm

Cat No.入数価格(¥)
LO281042,000





FIB ピンタイプホルダー


FIB試料台





2 FIB Grid Holder
Cat No.仕様価格(¥)
GU315φ12.7 × 7.8mm
専用ドライバー付
18,000
GU315R交換用 真鍮ネジ 10ヶ3,000


FIB試料台





Multiple FIB Grid Holder
Cat No.仕様価格(¥)
GU31622.5 × 29 × 13.5mm
φ3.2mm Pin
46,000



FIB試料台

2 FIB Grid/Sample Holder

 2つのLift Out Gridsを保持及びφ12.7mmまでの試料をピンスタブにマウントできます。
ピン径:φ3.2mm。材質:アルミ

Cat No.仕様価格(¥)
GU31722.4×12.7×11.7mm
専用ドライバー付
72,000
GU315R交換用 真鍮ネジ 10ヶ3,000



FIB試料台

2 FIB Grid/2 Sample Holder

 2つのLift Out Gridsを保持及びφ12.7mmまでの2つの試料をピンスタブにマウントできます。
ピン径:φ3.2mm。材質:アルミ

Cat No.仕様価格(¥)
GU31836.5×12.7×11.6mm
専用ドライバー付
81,000
GU315R交換用 真鍮ネジ 10ヶ3,000



FIB試料台

Multiple FIB Grid/Sample Holder

 複数の同じ厚さのLift Out Gridsを保持及びφ25mmまでの試料をピンスタブにマウントできます。
ピン径:φ3.2mm。材質:アルミ

Cat No.仕様価格(¥)
GU31950×29×13.5mm72,000



FIB試料台

Low Profile Double TEM グリッドホルダー

 2つのLift Out Gridsをバネ懸架式で簡単に保持できます。
ピンサイズ:φ3.2×4mm(h)。材質:アルミ

Cat No.材質価格
LP10アルミ200,000



FIB試料台

LP Double TEM グリッド/試料ホルダー

 FIB及びSEM/FIB (DualBeam/CrossBeam)用TEMグリッド/試料ホルダー。2つのLift Outグリッド及び2つの試料を保持できます。
ピンサイズ:φ3.2×8.1mm(h)。材質:アルミ

Cat No.材質価格
LP11アルミ245,000



FIB試料台

LP Single 試料/グリッドホルダー

 FIB及びSEM/FIB用TEMグリッド/試料ホルダー。2つのLift Outグリッド及び1つの試料を保持できます。
ピンサイズ:φ3.2×8.1mm(h)。材質:アルミ

Cat No.材質価格
LP12アルミ255,000








窒化シリコンメンブレン リフトアウトグリッド
Silicon Nitride Lift-Out TEM Windows

Silicon Nitride Lift-Out TEM Windows

窒化シリコンメンブレン リフトアウトグリッド <Silicon Nitride Lift-Out Grid>

● flip-stage SEM/FIBまたはTEM試料ホルダーに適合します。

● 窒化シリコンメンブレン リフトアウトグリッドは、100×500umのウィンドウに沿って大きい堅牢な窒化シリコン膜(厚さ400nm)が貼られており、試料調整のために簡単にアクセスできるエッヂを提供します。ストレスの少ないSiN膜は、FIBによって電子透過可能な厚さ(50nm厚以下)に加工ができます。

● 電気的・熱的分析のための厚さ200nmの金電極を備えたタイプが選択できます。



窒化シリコンメンブレン リフトアウトグリッド


Cat No.金電極フレーム厚メンブレン厚ウィンドウ
サイズ
枚数価格(¥)
SN100-LFTN/A100um400nm100×500um1082,000
SN100-LFT-AU有り135,000








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